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          • HTZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            HTZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • GYZKZ-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            GYZKZ-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • ZKD-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            ZKD-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • BOZK-Ⅳ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            BOZK-Ⅳ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • KDZK-IV 真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            KDZK-IV 真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • HSXZKD-H真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            HSXZKD-H真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • ZKD-Ⅱ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            ZKD-Ⅱ真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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          • RTZK-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            RTZK-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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          • GDZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            GDZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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          • DZK-H真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            DZK-H真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • SCZK-4D真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            SCZK-4D真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • ZKZ-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            ZKZ-V真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • xuji真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            xuji真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • MEZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            MEZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • SBZKD-2000真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            SBZKD-2000真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • HVZKD真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            HVZKD真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • ZKY2000 真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            ZKY2000 真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • ZKG2000真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            ZKG2000真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • TE3018真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            TE3018真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

            更新時(shí)間:2024-05-09

          • GWZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            GWZK-IV真空開關(guān)真空度測(cè)試儀
            真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法,這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí),雖然擊穿電壓沒有降低,但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈,運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度,不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理,使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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